对于半导体 OEM 而言,了解封装结构对热行为可靠性的影响至关重要,尤其是在功率密度和现代封装开发的复杂性不断增加的情况下。复杂的片上系统 (SoC) 和 3D-IC(集成电路)开发所面临的挑战意味着热设计必须成为封装开发中不可或缺的一部分。通过超越数据表值的热模型和建模建议来支持后续供应链的能力在市场上具有差异化的价值。
对于将封装 IC 集成到产品中的电子制造商来说,能够在系统级环境中准确预测印刷电路板 (PCB) 上组件的结温,以开发具有成本效益的适当热管理设计,是非常重要的。而电子产品散热仿真软件工具提供了这种洞察力。热工程师希望可以对 IC 封装保真度进行建模,以适应不同的设计阶段和信息可用性。为了在瞬态场景中对关键组件进行精确建模,需要使用结温瞬态测量数据校准的热模型。