Zerstörungsfreie, wiederholbare und standardisierte Prüfmethoden
Die Simcenter Micred-Familie von Hardware- und Softwareprodukten wurde entwickelt, um die thermische Leistung elektronischer Komponenten unter statischen und dynamischen Bedingungen zu bewerten. Das Prüfsystem für thermische Transienten funktioniert, indem es die angelegte Heizleistung eines zu testenden Geräts (DUT) schnell ändert und sein Temperaturverhalten misst. Die Sperrschichttemperatur wird auf der Grundlage eines vom Anwender während der Kalibrierungsphase gewählten temperaturabhängigen Parameters aufgezeichnet. Die Methoden entsprechen weit verbreiteten Richtlinien der Branche, wie den JEDEC-Standards und den ECPE Automotive Qualification Guidelines (AQG). Die daraus resultierenden Daten werden zur Erstellung von Wärmeimpedanzprofilen verwendet, die Erkenntnisse über das thermische Verhalten der Komponente liefern.
Bestimmung von thermischen Kennzahlen, thermischer Zuverlässigkeit und Qualitätsbewertung
Impedanzprofile werden dann verwendet, um potenzielle thermische Probleme zu identifizieren, wie z. B. die Verschlechterung des Wärmepfads, und jede Änderung des Wärmewiderstands kann bis zu einem Ort verfolgt werden. Es ist ein hervorragendes Tool für die Diagnose von thermischen Alterungseffekten, Beschädigungen, Ausfällen usw., mit Echtzeit-Erkennung von Drahtbondbrüchen, Lötermüdung, Die- und Substratrissen.
Hohe Präzision für ein breites Anwendungsspektrum
Simcenter Micred bietet eine Palette von Prüfsystemen, deren Konstruktion auf die Bedürfnisse unterschiedlicher Anwendungen und Branchen abgestimmt ist. Die Systeme sind mit modernsten Mess- und Regelungstechnologien ausgestattet, die höchste Genauigkeit, Geschwindigkeit und Präzision gewährleisten. Sowohl Forschungszentren als auch die Halbleiter-, Unterhaltungselektronik-, Automobil- und LED-Branche setzen sie bei der Konstruktion von Komponenten, der Erstellung von Prototypen und bei Testverfahren ein.
Ein Vermächtnis der Innovation
Die Simcenter Micred-Reihe hat ihren Ursprung in der Forschungsarbeit der Abteilung für Elektronische Bauelemente an der Technischen und Wirtschaftswissenschaftlichen Universität Budapest (BME). Siemens führt dieses Erbe der Innovation auch in der Gegenwart fort.
Thermische Charakterisierung von Halbleitergehäusen – thermische Messgrößen, Zuverlässigkeit und Qualität
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