Simcenter Micred LED Tester

統合された熱的、放射/測光的性能の特性評価を行うテスト・ステーションを使用して、LEDの熱特性を正確に表現できます。

LEDの熱的、放射/測光的性能の評価試験の組み合わせ
Simcenter Micred LED Testerの熱特性評価用ハードウェアとともに、Simcenter Micred LED Testerの熱制御テストステージを使用して、LEDおよびLEDモジュールの電気的、熱的、放射/測光的性能の特性評価を組み合わせたテスト・ステーションを形成します。これにより、Simcenterの熱設計ソフトウェアで使用できるマルチドメイン対応のコンパクト・モデルが作成されます。

JEDEC規格に準拠
これらのLEDテスト・ソリューションは、JEDEC規格JESD51-52に準拠し、CIE (国際照明委員会) 技術報告書127:2007および225:2017に準じています。実質熱抵抗と光出力のパラメーターは、広範な順電流に対する実質LEDジャンクション温度の関数として測定されます。このプロセスは完全に自動化されています。サードパーティの分光放射計により、発光スペクトルを取得し、照明設計におけるLEDパッケージの光出力特性を正確にモデリングするためのさらなるインプットを得ることができます。

熱試験

コンポーネントとシステムのサプライヤーは、この熱特性評価用ハードウェア製品ファミリーを使用して、半導体ICパッケージ、LED単体、LEDアレイ、積層ダイ/マルチダイのパッケージ、パワー・エレクトロニクス・モジュール、サーマル・インターフェース・マテリアル (TIM) の熱特性だけでなく、電子機器システム全体の熱特性も正確かつ効率的に試験、測定、評価することができます。

シーメンスのハードウェア・ソリューションは、いくつかの個別の試験の結果から人為的に構成するのではなく、パッケージ化された半導体装置の実際の加熱曲線または冷却曲線を連続的かつリアルタイムで直接測定します。この方法で真の熱過渡応答を測定することは、定常状態での測定方法よりもはるかに効率的で正確であり、より高精度の熱メトリクスを取得できます。測定では、定常状態での測定方法のように繰り返し実行して平均を取るのではなく、試料ごとに1回実行するだけで済みます。

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